改良髓腔入口对上颌第一、二磨牙近中颊根第二根管临床发现率的影响(1)
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[摘要]目的：改良髓腔入口方式探究上颌磨牙近中颊根第二根管的临床发现率。方法：采用改良髓腔入口和探查近中颊根根管口与腭根根管口之间发育沟或暗线的方法研究上颌磨牙近中颊根第二根管的肉眼发现率。结果：553例患者的 574颗上颌第一磨牙中有356颗存在近中颊根第二根管，发现率为62.02%；529例患者637颗上颌第二磨牙中有294颗存在近中颊根第二根管，发现率为46.15%。结论：改良髓腔入口和探查近中颊根根管口与腭根根管口之间发育沟或暗线的方法，有利于发现和治疗上颌第一、二磨牙近中颊根的第二根管。
[关键词]上颌第一、二磨牙；近中颊根；第二根管；发现率
[中图分类号]R783.1 [文献标识码]A [文章编号]1008-6455(2012)11-2024-03
根管治疗的关键在于对牙根及根管系统的解剖形态做到充分的了解，做到根管不遗漏，彻底清理、成形和三维充填。由于增龄性改变，根管变细、钙化。上颌磨牙解剖形态包括牙根的数目，根管的数目和形态变异性非常大，这就给临床根管治疗带来了许多困难。由于上颌磨牙近中颊根(MBR)根管结构的复杂性，其成为根管治疗失败率最高的牙位[1]。研究表明MBR常有主根管(MB)和第二根管(MB2)同时存在，甚至偶有第三根管(MB3)出现，并且MB2的遗漏是上颌磨牙根管治疗失败的主要原因之一 [2-3]。上颌磨牙在根管治疗时视野差，操作难度大，MB2更容易遗漏。关于上颌第第一、二磨牙 MB2的实验室研究较多，由于采用的研究方法存在差异，所报道的MB2发生率不等。本研究试图通过改良髓腔入口和探查近中颊根根管口与腭根根管口之间发育沟或暗线的方法研究上颌磨牙MB2的临床发现率。
1 材料和方法
1.1病例资料：选择2008年3月～2011年10月门诊中后牙需根管治疗的患者1082例(男496例，女586例)，年龄12～74岁。入选标准：①为初次根管治疗者；②根管形态正常，无牙折；③根管畅通、无钙化、无根内、根外吸收；④无严重牙周病及全身系统性疾病。
1.2 材料和器械：TROPHY数字化牙片系统，瑞士产HERO642镍钛根管扩大系统，手用不锈钢扩大锉(H-file)10～35，TRRY根尖定位仪，登士柏 AH-plus糊剂根管充填糊剂，标准锥度牙胶尖(15～40)。
1.3 操作步骤：根管预备采用根向预备技术，具体操作如下：①治疗前均采用TROPHY数字化牙片系统拍牙片，以了解根管情况及牙根弯曲度，若发现近中颊根根尖区出现复杂的牙周膜间隙则怀疑有MB2 的存在；②开髓后，把传统的上颌磨牙三角形的开髓洞型进行改良，采用改良斜方形预备法制备开髓洞型，其外形线适当偏向近中，使扩大针尽量直线进入根管口，用探针探查近颊根管口与腭根根管口之间的浅沟或暗线，用10号手用H锉检查根管弯曲度，初步估计根管长度；③TRRY根尖定位仪测量根管长度；④根管内先用2.25%的次氯酸钠溶液清洗，保持根管内湿润；⑤根中上2/3段的预备根据根管弯曲程度选用不同型号镍钛扩大锉并按厂家的操作说明进行根管预备，根尖至点上2mm段的预备采用手用H锉逐步后退法预备根管，直至较初尖锉大3个型号；⑥每更换一次扩大锉都需用2.25%的次氯酸钠溶液清洗根管，配用EDTA根管润滑剂；⑦根管预备后插诊断丝拍摄正位和偏移2张X线片以确定根管数目，并再次估计根管长度，并与根尖定位仪测量的数值及临床操作三者相结合，最终分析出尽可能准确的根管长度；⑧根管预备完毕后用0.9%的生理盐水冲洗，封甘油调制的氢氧化钙碘仿糊剂7天后复诊，患牙无不适行登士柏 AH-plus糊剂加冷牙胶尖侧方加压根充。
2 结果
在本研究所纳入的1082例患者(1211)颗中牙髓炎 587 颗、根尖周炎496颗、牙周牙髓联合病变 128颗。上颌第一、第二磨牙近中颊根根管分布情况见表1。
3 讨论
早在1969年国外学者报道了上颌磨牙近中颊根第二根管(MB2)的存在，后来许多学者对 MB2根管进行了研究。研究以离体牙为对象的体外研究为主，主要借助 X线片、光学显微镜、扫描电镜、注射染料法和透明法等。临床研究和体外研究在有些步骤和方法上相互借鉴，如改良开髓法(Improved Access Technique)、逐步接近法(Countsinking)、头照灯(Head-lamps)、牙科放大镜(Dental lOUpes)和手术显微镜(Operating Microscope)。体外研究中，MB2的发生率52%～90%，其中上颌第一、二磨牙最高发生率分别为90%和70%[4]。而临床研究中，MB2的发生率普遍较低，上颌第一磨牙为16%～71.7%，其中 Stropko[5]报道的上颌第一、二磨牙MB根双根管发生率最高分别为71.7%和45.4%。Wolcott等[6]在对245例上颌第二磨牙的临床治疗中发现36%的牙存在 MB2。Stropko[5]通过根管显微镜的使用使上颌第二磨牙近中颊根 MB2发现率提高到60.4%，但Sempira等[7]报道在体内只有24%上颌第二磨牙近中颊根的MB2在根管显微镜下可通过。Yoshiokat等[8]研究发现显微镜的使用可提高上颌磨牙近中颊根MB2的发现率，但仍有13%的MB2由于根管钙化或根尖较多分支的存在而未探测到。本组研究中上颌第一、二磨牙MB根双根管发生率分别为62.02%和46.15%，与Stropko报道的相似。1211例中发现46例虽然存在MB2根管口 ......
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